2009年5月12日至13日，由中国工程院信息与电子工程学部、深圳大学等单位联合主办，北京信息科技大学、合肥工业大学等单位承办的中国深圳2009年自动光学检测研讨会在深圳召开。
    叶声华、金国藩、牛憨笨、徐扬生、钟山、周立伟、周寿桓院士以及来自深圳大学、天津大学、台湾大学、北京航空航天大学等单位的40余位专家出席了会议，参加研讨会的人数达200余人。
    本次研讨会的核心是：微电子和光电子领域的企业对自动光学检测的需求、目前使用的技术手段和局限性以及在质量保证方面所面临的挑战；高校及科研院所目前正在自主研发的相关技术，这些自主研发的精密测试技术如何能够最大限度地发挥作用，推动微电子和光电子行业的发展。
    金国藩、叶声华院士及18位专家分别围绕自动光学检测的不同领域作了20个学术报告，研讨会取得了良好的效果。（范桂梅）