2020年12月11-13日，首届国际高端测量仪器高层论坛暨第11届精密工程测量与仪器国际会议在京隆重召开。本次会议由中国工程院、国际测量与仪器委员会共同主办，中国工程院信息与电子工程学部、中国仪器仪表学会、中国计量测试学会、哈尔滨工业大学联合承办，北京信息科技大学协办。中国工程院院士、哈尔滨工业大学精密仪器工程研究院院长谭久彬教授担任大会主席并主持会议。

    中国工程院金国藩、周立伟、叶声华、李天初等院士出席了大会。国际测量技术联合会（IMEKO）前主席Kenneth T V Grattan教授、美国加州理工大学Lihong V. Wang教授、德国PTB Jens Flügge博士、美国密歇根大学Steven Cundiff教授、日本电气通信大学Kaoru Minoshima教授等国际学术大师和世界顶级科学家参加了大会。大会主席团成员，金国藩院士、中国仪器仪表学会张彤秘书长、中国计量测试学会马爱文秘书长先后在大会开幕式上致辞。

    会议内容为主论坛大会报告、分论坛研讨和圆桌论坛三个部分。李天初院士等8位国际著名专家学者作了主论坛大会特邀报告；分论坛研讨分为8个分会场，40个国内外专家进行了分会主旨和邀请报告；圆桌会议研讨会邀请100余位仪器科学与工程科技领域的著名科学家、技术专家和企业家，共同探讨和交流了国际仪器领域的重大前沿问题。

    本次论坛根据世界科技革命与产业变革趋势，探讨和判断高端测量仪器技术发展趋势和仪器产业发展趋势；提出促进世界高端测量仪器科技与产业重点发展方向；共同推进世界范围内高端测量仪器技术形态和产业业态的变革，从而为科技发展提供更有力的支撑。

    （图/文 王甜甜）